美国尤尼明IOTA-STD产品的Al、B、Li、K、Na、Ca、Mg、Ti、Fc、Mn、Cu、Cr、Ni等杂质元素总含量通常<20×10-6,大值<22×10-6。对于这样高纯度的物质,采用化学分析法和X射线荧光光谱法(XRF)是难以满足其质量检测要求的。
对于金属元素,尤其是微量金属元素的检测,电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)具优势,具有检出限良好,检测精确度高、耗时短、灵敏度高等特点。目前ICP-OES已经成为检测高纯物料微量化学成分的有效方法。
ICP检测技术是高纯石英技术的重要支撑和组成部分,对促进我国高纯石英技术发展不仅具有现实意义,而且具有重要理论意义。
如下表所示,同样是美国尤尼明高纯石英样品,其杂质含量的国内ICP检测结果(81.89×10-6)与该公司文献公布结果(大31.1×10-6)存在较大差异,说明目前我国在低杂质检测技术上尚存在一些问题,与国际先进水平还存在明显差距。
高纯石英的物理和化学性质稳定,具有杂质含量低、溶矿难度大等特点。在高纯石英检测样品消解和溶矿过程中,所涉及基本因素有:试样重量、试剂组合、试剂用量、试剂纯度等。
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